光学三次元測定器 「OPS-1000」
非接触、高速、高精度で三次元計測が可能です。世界最高感度(※)の測定を実現し、測定物の表面状態、形状、材質、色を問わず計測が可能です。従来の光学式測定器では計測が難しかった鏡面、角度の付いた面、ガラス面などの計測も可能となりました。従来の表面計測器で測定出来ずにお困りの方は、是非お問い合わせ下さい。

光学断層測定器 「IVS-2000」
Swept Source-OCTを測定原理とした光学断層測定器です。近赤外光を僅かでも通す材質であれば、内部を可視化することが可能です。当社の光学断層測定器は高感度に、より深くイメージング出来る事が特徴です。欠陥検査、非破壊検査、膜厚測定等のインライン検査でご利用頂いております。