超高速高精度３次元測定装置
本装置は色収差共焦点原理を用いた高精度の超高速センサーにより、最大 6,000 ライン/秒の測定速度で、
最大 100 万ポイント/秒（ＨＳタイプ）を超える測定が可能です。段差、異物、キズ、突起、膜厚などを大面積で短時間検査測定する事が可能になります。

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レンズ外観検査装置
本装置は高速高解像度カメラと照明系を工夫して小型レンズの（スマホ含む）の外観検査を高速高精度で、
行います。またレンズ単体とモジュールの双方の検査に対応します。異物や、傷、クラック等の検査も可能。
手動でサンプルを搭載し、検査は自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度ＣＭＯＳカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。またインラインにも容易に対応致します。

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ハンディＡＦＭ
奥行き幅、共に１５ｃｍの超小型ＡＦＭで、何処にでも連れて行けます。操作もノートＰＣから全て行えます。
高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。
走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの２種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は必要有りません。

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高速異物検査装置
本装置は高速高解像度カメラと特殊ドーム照明用いて樹脂プレート等の異物測定を自動的に行います。
手動でサンプルを搭載し、検査は自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度ＣＭＯＳカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。またインラインにも容易に対応致します。

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画像処理用スケール
画像測定で高さや傾斜測定を校正する基準スケールマスクです。
１）高さミクロメータ　型式SCM-10M
画像測定で高さや傾斜測定を校正する基準スケールマスクです。
２）２球体スケール　型式S2000
２球の径と中心間距離により画像処理校正ができます。2球は5mmφの円の中にありマクロ検査用の校正円に利用できます。

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