総合検査機器展

出展社詳細

小間番号 J-10
出展社名 株式会社アイ・アール・システム
https://www.irsystem.com/
みどころ アクティブサーモ技術で、より高性能な非破壊試験を実現します。
製品情報

非破壊検査用のアクティブサーモグラフィ
弊社では高感度・高速度サーモグラフィ単体も取り扱っておりますが、昨今普及しつつあるサーモグラフィを使った非破壊検査装置も取り扱っております。アプリケーションとしては、自動車車体のスポット溶接箇所、ホットプレスされた製品、パワー半導体、ソラーパネル等の不良箇所を非破壊で、スピーディーに発見する事が可能です。

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