計量計測展

出展社詳細

(株)日立ハイテクノロジーズ

小間番号
M-16
出展社名 (株)日立ハイテクノロジーズ
https://www.hitachi-hightech.com/jp/science/products/microscopes/
住所 〒105-8717
東京都港区西新橋1-24-14
担当部署 コミュニケーション戦略グループ
TEL 03-3504-7211
FAX 03-3504-7756
E-mail takamasa.nomura.ej@hitachi-hightech.com
みどころ 有機・高分子、半導体・エレクトロニクス、無機材料、金属・誘電体・磁性体、生体など、幅広い分野で利用されている装置や光の干渉現象を利用した非接触・非破壊の表面形状計測装置を出展します。
是非日立ハイテクノロジーズブースへお越しください。
出展製品

中型プローブ顕微鏡システム AFM5500M
XY200 µmの広域走査に加えて歪みを抑制したフラットスキャナにより直線性の高い計測を実現する中型SPMです。更にカンチレバーの装着・交換、光軸調整を自動化することで、オペレーターの負担を大幅に軽減しました。また、SEMとSPMで試料の同一場所を簡単に測定できるAFM&SEMリンケージシステムを搭載できます。

環境制御型ユニット AFM5300E
真空・液中・ガス・温度・湿度など、様々な環境ニーズに対応する環境制御型SPMです。電子デバイスなど電気物性評価に欠かせない吸着水影響などを排除した高真空中での評価を実現します。また、専用の雰囲気遮断ホルダによりSEM、IM、SPM間を大気に曝露することなく搬送できるので、2次電池等の評価に最適です。

このページを印刷    閉じる